| 标题 |
 Enhanced electrical stability in IGZO TFTs through passivation effects of PTFE in the back-channel layer 通过PTFE在背沟道层中的钝化效应增强IGZO TFTs的电稳定性
相关领域
钝化
材料科学
图层（电子）
光电子学
频道（广播）
纳米技术
电气工程
工程类
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Applied Physics Letters 作者：Jae Won Na; Kunho Moon; I. Sak Lee; K. Park; H. Kim; et al 出版日期：2025-05-12 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
SYLH
冰魂
许甜甜鸭
cdercder
nozero
个性归尘
乐观小之
sunyz
OCDer
乐乐乐乐乐乐
热心市民小红花
昏睡的蟠桃
半柚
iNk
彭于彦祖
brisk
cctv18
jenningseastera
sissiarno
剑指东方是为谁
皖公网安备34019202002308
