| 标题 |
DEE-YOLO: An enhanced lightweight model for infrared fault detection in power equipment 相关领域
计算机科学
瓶颈
卷积(计算机科学)
点式的
特征(语言学)
故障检测与隔离
功率(物理)
断层(地质)
计算
棱锥(几何)
算法
可靠性(半导体)
实时计算
人工智能
卷积神经网络
互连
能量(信号处理)
适应性
维数之咒
电子工程
比例(比率)
核(代数)
判别式
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Soft Computing 作者:Lu Liu; Haojie Zhu 出版日期:2027-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)