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Methods for automatically obtaining the sputtering-induced roughness upon depth profiling of polycrystalline films |
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期刊:Journal of vacuum science and technology 作者:Gong-Wen Liu; Jin-Peng Ye; Zhi Tan; Songyou Lian; Xin-Liang Yan; et al 出版日期:2025-02-18 |
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