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Magnetic Flux Leakage Course of Inner Defects and Its Detectable Depth 内部缺陷漏磁过程及其可检测深度
相关领域
漏磁
无损检测
材料科学
电磁线圈
磁导率
亥姆霍兹线圈
磁通量
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磁场
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物理
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经济
膜
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期刊:Chinese Journal of Mechanical Engineering 作者:Jianbo Wu; Wenqiang Wu; Erlong Li; Yihua Kang 出版日期:2021-06-12 |
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