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  Influence of rapid thermal annealing in vacuum on the resistive switching of Cu/ZnO/ITO devices 真空快速热退火对Cu/ZnO/ITO器件电阻开关的影响
相关领域
材料科学
退火（玻璃）
光电子学
宽禁带半导体
电阻式触摸屏
铜
工程物理
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期刊：AIP Advances 作者：Tai-Min Liu; Zong-Wei Wu; Chien-Chen Lee; Pin-Qian Yang; Hua‐Shu Hsu; et al 出版日期：2024-11-01 |
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