| 标题 |  Thin-film characterization with a dual-channel dispersion-encoded imaging low-coherence interferometry approach 相关领域 
                                                                                                                                    
                                                                        
                                                                            材料科学                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
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                                                                            光学                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            白光干涉法                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            干扰(通信)                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
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                                                                            薄膜                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
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                                                                            纳米技术                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
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                                                                            程序设计语言                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
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| DOI | |
| 其它 | 期刊: 作者:Christopher Taudt; Marco Preuß; Bryan Nelsen; Tobias Baselt; Edmund Koch; et al 出版日期:2019-03-07 | 
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