| 标题 |
 A Decrease in the Exchange Bias Caused by an Increase in the Effective Thickness of the Copper Layer in the NiFe/Cu/IrMn Heterostructures 相关领域
铜
材料科学
反铁磁性
交换偏差
铁磁性
凝聚态物理
矫顽力
图层（电子）
交换互动
磁化
磁各向异性
冶金
复合材料
磁场
物理
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Physics of the Solid State 作者：Р. Б. Моргунов; M. V. Bakhmet’ev; Artem D. Talantsev 出版日期：2020-11-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
浮游
GingerF
哆啦的空间站
zcl
昏睡的蟠桃
eric888
子车茗
不配.
tuanheqi
聪慧的正豪
Criminology34
有结果
打工小房
雨0926
star
LaTeXer
彭于彦祖
yznfly
GPTea
冬雪丶消融
七月流火
小青椒
changping
yangjiafengzi
Dean
ldkl
馆长
布溜
皖公网安备34019202002308
