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Influence of Varying Recessed Gate Height on Analog/RF Performances of a Novel Normally-Off Underlapped Double Gate AlGaN/GaN-based MOS-HEMT 不同凹栅高度对新型常关欠重叠双栅AlGaN/GaN基MOS-HEMT模拟/射频性能的影响
相关领域
跨导
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材料科学
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期刊:IETE Journal of Research 作者:Chirayush Chakraborty; Atanu Kundu 出版日期:2024-12-21 |
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