| 标题 |
High Current Density Effect on In-situ Atomic Migration Characteristics of a BiTe Thin Film System 高电流密度对BiTe薄膜系统原位原子迁移特性的影响
相关领域
材料科学
焦耳加热
硫系化合物
电流密度
薄膜
热电效应
阳极
阴极
电流(流体)
原子力显微镜
光电子学
电极
纳米技术
复合材料
化学
电气工程
量子力学
热力学
物理
物理化学
工程类
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Seung‐Hyun Kim; Yong-Jin Park; Young‐Chang Joo; Young-Bae Park 出版日期:2013-10-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|