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 Achieving 63 pm Resolution in Scanning Transmission Electron Microscope with Spherical Aberration Corrector 相关领域
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期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Hidetaka Sawada; Fumio Hosokawa; Toshikatsu Kaneyama; Toshihiro Ishizawa; Mitsuhisa Terao; et al 出版日期：2007 |
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