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Device-level XPS analysis for physical and electrical characterization of oxide-channel thin-film transistors 相关领域
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Yun-Ju Cho; Young-Ha Kwon; Nak‐Jin Seong; Kyu-Jeong Choi; Myung Keun Lee; et al 出版日期:2024-08-16 |
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