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  Device-level XPS analysis for physical and electrical characterization of oxide-channel thin-film transistors 相关领域
X射线光电子能谱
薄膜晶体管
材料科学
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Yun-Ju Cho; Young-Ha Kwon; Nak‐Jin Seong; Kyu-Jeong Choi; Myung Keun Lee; et al 出版日期：2024-08-16 |
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