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Assessing the Stress Induced by Novel Packaging in GaN HEMT Devices via Raman Spectroscopy 用拉曼光谱评估GaN HEMT器件中新型封装引起的应力
相关领域
高电子迁移率晶体管
材料科学
拉曼光谱
光电子学
压力(语言学)
电气工程
晶体管
工程类
光学
物理
哲学
语言学
电压
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期刊:Applied Sciences 作者:Zainab Dahrouch; Giuliana Malta; Moreno d’Ambrosio; Angelo Messina; Mattia Musolino; et al 出版日期:2024-05-16 |
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