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TEM-EDS studies on Si diffusion behavior in heteroepitaxial AlN polarity inversion structures on Si substrates |
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期刊:Fourteenth National Conference on Photonics 作者:Jian-Nan Hu; Guo-Ying Wang; Hui Li; Shuo Wang; Ruo-Yu Ma; et al 出版日期:2025-12-03 |
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