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Gate leakage mechanisms in Al2O3/SiN/AlN/GaN MIS-HEMTs on Si substrates |
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期刊:Chinese Physics B 作者:Hui-Lin 惠琳 Li 李; Jie-Jie 杰杰 Zhu 祝; Ling-Jie 灵洁 Qin 秦; Si-Mei 思美 Huang 黄; Shi-Yang 诗洋 Li 李; et al 出版日期:2025 |
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(2025-6-4)