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A combined test structure with ring oscillator and inverter chain for evaluating optimum high-speed/low-power operation |
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期刊:International Conference on Microelectronic Test Structures, 2003. 作者:T. Matsuda; H. Iwata; T. Ohzone; K. Yamashita; N. Koike; et al 出版日期:暂无 |
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(2025-6-4)