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In situ study on depth-resolved chemical states of undoped SrTiO3(001) surface during Ar+ sputtering and annealing process with XPS 用X射线光电子显微镜原位研究未掺杂SrTiO3(001)表面的深度分辨化学状态
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期刊:Journal of Materials Chemistry C 作者:Dongwoo Kim; Hojoon Lim; Minsik Seo; Hyunsuk Shin; Kyeong Min Kim; et al 出版日期:2024-01-01 |
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