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Investigation of sputtering pressure on physical properties of CuO films and the electrical properties-temperature relationship of CuO films and p-CuO/n-GaN heterojunction 溅射压力对CuO薄膜物理性质及CuO薄膜与p-CuO/n-GaN异质结电学性质-温度关系的研究
相关领域
材料科学
异质结
溅射
整改
光电子学
溅射沉积
霍尔效应
半导体
电阻率和电导率
薄膜
电压
纳米技术
电气工程
工程类
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| 其它 |
期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Guojiao Xiang; Yijian Zhou; Wenbo Peng; Yue Liu; Jiahui Zhang; et al 出版日期:2022-09-11 |
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