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Effect of Oxygen plasma treatment on the performance of GaN-based MIS-HEMTs |
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期刊:2022 IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK) 作者:K. Sekiyama; M. Ishiguro; S. Yamazaki; S. Urano; A. Baratov; et al 出版日期:2022-11-28 |
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