A 10Gb/s/pin DQS and WCK Built-Out Tester for LPDDR5 DRAM Test

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标题	A 10Gb/s/pin DQS and WCK Built-Out Tester for LPDDR5 DRAM Test 相关领域德拉姆自动测试设备嵌入式系统计算机科学内置自检计算机硬件自动测试模式生成测试压缩工程类可测试性可靠性工程电气工程电子线路
网址	https://doi.org/10.1109/a-sscc56115.2022.9980646
DOI	10.1109/a-sscc56115.2022.9980646 doi
其它	期刊：作者：Chan‐Ho Kye; Jihee Kim; Kyungmin Baek; Kahyun Kim; Sangjin Pack; et al 出版日期：2022-11-06
求助人	tinna 在 2026-05-13 10:27:32 发布自广东，悬赏 10 积分
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