| 标题 |
Resolution–linewidth roughness–sensitivity performance tradeoffs for an extreme ultraviolet polymer bound photo-acid generator resist |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS 作者:Roel Gronheid 出版日期:2011 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)