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标题
Intrinsic and extrinsic reliability of a serial connection of capacitors
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DOI
10.1016/j.microrel.2010.02.021 doi
其它 期刊:Microelectronics Reliability
作者:K.-H. Allers
出版日期:2010
求助人
拿铁不加甜甜 在 2026-03-18 12:59:49 发布自安徽,悬赏 10 积分
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