Induced Back-Gate Noise in FDSOI MOSFET

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标题	Induced Back-Gate Noise in FDSOI MOSFET FDSOI MOSFET中的感应背栅噪声相关领域 MOSFET 噪音（视频）光电子学电气工程绝缘体上的硅材料科学电子工程计算机科学工程类晶体管电压人工智能硅图像（数学）
网址	https://doi.org/10.1109/tcsii.2023.3325809
DOI	10.1109/tcsii.2023.3325809 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Circuits & Systems II Express Briefs 作者：Mohammad Radpour; Leonid Belostotski 出版日期：2023-10-19
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