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 Electric current paths in a Si:P delta-doped device imaged by nitrogen-vacancy diamond magnetic microscopy 氮空位金刚石磁显微镜成像Si：P δ掺杂器件中的电流路径
相关领域
材料科学
钻石
空位缺陷
电流（流体）
兴奋剂
磁场
电流密度
原子单位
硅
光电子学
核磁共振
电气工程
物理
量子力学
工程类
复合材料
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| 网址 | |
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| 其它 |
期刊：Nanotechnology 作者：Luca Basso; Pauli Kehayias; Jacob Henshaw; Maziar Saleh Ziabari; Heejun Byeon; et al 出版日期：2022-09-28 |
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Mie
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