| 标题 |
Reliability of MOL local interconnects MOL局部互连的可靠性
相关领域
可靠性(半导体)
随时间变化的栅氧化层击穿
电介质
节点(物理)
极性(国际关系)
覆盖
CMOS芯片
晶体管
材料科学
电气工程
光电子学
缩放比例
炸薯条
计算机科学
栅极电介质
物理
电压
工程类
化学
数学
细胞
程序设计语言
几何学
功率(物理)
量子力学
生物化学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者:T. Kauerauf; A. Branka; Giuseppe Sorrentino; Ph. Roussel; S. Demuynck; et al 出版日期:2013-04-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|