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 Worst case irradiation on MOS components: implication on CMOS4000B technology total dose testing 相关领域
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期刊：Proceedings of the Third European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems 作者：D. Gaudin; J.M. Boyer; J.P. Dayid; J.F. Vadrot 出版日期：2002-11-20 |
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