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[高分]
  Structural and analytical characterization of Si1-x Gex /Si heterostructures by Rutherford backscattering spectrometry and channeling, analytical electron microscopy and double crystal X-ray diffractometry 通过卢瑟福背散射光谱和沟道、分析电子显微镜和双晶X射线衍射对Si1-x Gex/Si异质结构的结构和分析表征
相关领域
卢瑟福背散射光谱法
表征（材料科学）
异质结
X射线
材料科学
质谱法
分析化学（期刊）
结晶学
化学
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纳米技术
光电子学
物理
薄膜
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期刊：Microscopy Microanalysis Microstructures 作者：A. Armigliato; M. Servidori; F. Cembali; Rita Fabbri; Rodolfo Rosa; et al 出版日期：1992-01-01 |
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