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TCAD evaluation of single-event burnout hardening design for SiC Schottky diodes SiC肖特基二极管单事件烧毁硬化设计的TCAD评估
相关领域
材料科学
光电子学
硬化(计算)
肖特基二极管
倦怠
肖特基势垒
工程物理
电子工程
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二极管
工程类
复合材料
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图层(电子)
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Jia-Hao Chen; Ying Wang; Haomin Guo; Xin-Xing Fei; Cheng‐Hao Yu; et al 出版日期:2022-11-14 |
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