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 Investigation of proton irradiation induced EC-0.9 eV traps in AlGaN/GaN high electron mobility transistors AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管中质子辐照诱导EC-0.9eV陷阱的研究
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Pengfei Wan; Weiqi Li; Xiaodong Xu; Yadong Wei; Hao Jiang; et al 出版日期：2022-08-29 |
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