Analysis of HBM Failure in 3D NAND Flash Memory

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标题	Analysis of HBM Failure in 3D NAND Flash Memory 相关领域 NMOS逻辑静电放电与非门闪光灯（摄影）材料科学可靠性（半导体）电子工程逻辑门光电子学电气工程工程类晶体管电压光学物理功率（物理）量子力学
网址	https://www.mdpi.com/2079-9292/11/6/944/pdf?version=16475942...
DOI	10.3390/electronics11060944 doi
其它	期刊：Electronics 作者：Biruo Song; Zhiguo Li; Xin Wang; Xiang Fu; Fei Liu; et al 出版日期：2022-03-18
求助人	gang 在 2026-01-08 20:41:31 发布自北京，悬赏 10 积分
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