Analysis of HBM Failure in 3D NAND Flash Memory

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标题	Analysis of HBM Failure in 3D NAND Flash Memory 相关领域 NMOS逻辑静电放电与非门闪光灯（摄影）材料科学可靠性（半导体）电子工程逻辑门光电子学电气工程工程类晶体管电压光学物理量子力学功率（物理）
网址	https://www.mdpi.com/2079-9292/11/6/944/pdf?version=16475942...
DOI	10.3390/electronics11060944 doi
其它	期刊：Electronics 作者：Biruo Song; Zhiguo Li; Xin Wang; Xiang Fu; Fei Liu; et al 出版日期：2022-03-18
求助人	gang 在 2026-01-08 20:41:31 发布自北京，悬赏 10 积分
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