| 标题 |
A Comparative Study of Digital Memristor‐Based Processing‐In‐Memory from a Device and Reliability Perspective 相关领域
计算机科学
可靠性(半导体)
可扩展性
逻辑门
钥匙(锁)
电阻随机存取存储器
和大门
非易失性存储器
计算机体系结构
透视图(图形)
内存处理
逻辑综合
有状态防火墙
电子工程
数字电子学
嵌入式系统
表(数据库)
推论
逻辑优化
计算机工程
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| 其它 |
期刊:Advanced Electronic Materials 作者:Thomas Neuner; Henriette Padberg; Lior Kornblum; Eilam Yalon; Pedram Khalili Amiri; et al 出版日期:2025-11-24 |
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(2025-6-4)