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CPD-YOLO: a chip packaging defect detection network based on attention feature orthogonal fusion and wavelet transform 相关领域
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期刊:Measurement Science and Technology 作者:Jianhua Zhong; Fuxing Huang; Shengzhao Huang; Qin Lin; Jianfeng Zhong; et al 出版日期:2025-12-30 |
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