| 标题 |
  Refined Analysis of Leakage Current in SiC Power Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistors after Heavy Ion Irradiation 重离子辐照后SiC功率金属氧化物半导体场效应晶体管漏电流的精细分析
相关领域
材料科学
泄漏（经济）
光电子学
辐照
晶体管
栅氧化层
辐射
MOSFET
电压
电气工程
光学
工程类
物理
经济
核物理学
宏观经济学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
浮游
无极微光
看不了一点文献
bmhs2017
凤凰
小杭76
chenqiumu
Zx_1993
Criminology34
Shmilykk
zcl
meteor
GingerF
TYMY
彭于彦祖
avalanche
小青椒
寻道图强
yznfly
殷勤的紫槐
ceeray23
小Y
wlscj
MchemG
皖公网安备34019202002308
