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A method to numerically determine the secondary electron yield considering effects of the surface morphology 一种考虑表面形貌影响的二次电子产额数值测定方法
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Ning Yang; Bai‐Peng Song; Xiong Yang; Run-Dong Zhou; Guangyu Sun; et al 出版日期:2021-08-10 |
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