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Ab-Initio Screening of Amorphous Chalcogenides for Selector-Only Memory (SOM) through Electrical Properties and Device Reliability 相关领域
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期刊:International Electron Devices Meeting 作者:Ha-Jun Sung; Minwoo Choi; Y. Kang; Kiyeon Yang; Bonwon Koo; et al 出版日期:2024-12-07 |
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