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High-NA optical CD metrology on small in-cell targets enabling improved higher order dose control and process control for logic |
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| DOI |
10.1117/12.2260268
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| 其它 |
期刊:Advanced Lithography 作者:H. Cramer; Elliott Mc Namara; Rik van Laarhoven; R. Jaganatharaja; Isabel de la Fuente; et al 出版日期:2017-03-28 |
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(2025-6-4)