| 标题 |
Recent Developments of Crystallographic Analysis Methods in the Scanning Electron Microscope for Applications in Metallurgy 冶金用扫描电子显微镜晶体学分析方法的新进展
相关领域
电子背散射衍射
材料科学
表征(材料科学)
衍射
电子衍射
位错
菊池线
扫描电子显微镜
透射电子显微镜
选区衍射
结晶学
反射高能电子衍射
冶金
光学
微观结构
纳米技术
复合材料
化学
物理
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Critical reviews in solid state and materials sciences/CRC critical reviews in solid state and materials sciences 作者:Rafael Borrajo-Pelaez; Peter Hedström 出版日期:2017-10-26 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)