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TCAD modeling of radiation-induced defects in 4H-SiC diodes 4H-SiC二极管辐射诱导缺陷的TCAD建模
相关领域
光电子学
辐射
材料科学
二极管
PIN二极管
工程物理
光学
物理
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期刊:Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipment 作者:Philipp Gaggl; Jürgen Burin; Andreas Gsponer; Simon Waid; Richard Thalmeier; et al 出版日期:2024-10-30 |
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