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 Measurements and Modeling of Atomic‐Scale Sidewall Roughness and Losses in Integrated Photonic Devices 相关领域
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期刊：Advanced Optical Materials 作者：Samantha P. Roberts; Xingchen Ji; Jaime Cárdenas; Mateus Corato‐Zanarella; Michal Lipson 出版日期：2022-06-25 |
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