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 Automatic Point Cloud Clustering for Surface Defect Diagnosis 用于表面缺陷诊断的点云自动聚类
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期刊：IEEE Transactions on Automation Science and Engineering 作者：J. Ye; Xingjian Liu; Harikrishnan Madhusudanan; Yue Wang; Junhui Zhu; et al 出版日期：2025-01-01 |
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