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  A Comprehensive Analysis of Unclamped-Inductive-Switching-Induced Electrical Parameter Degradations and Optimizations for 4H-SiC Trench Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor Structures 相关领域
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期刊：Micromachines 作者：Li Liu; Jingqi Guo; Yiheng Shi; Kai Zeng; Gangpeng Li 出版日期：2024-06-09 |
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