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 Scanning ion-conductance microscopy technique for studying the topography and mechanical properties of Candida parapsilosis yeast microorganisms 相关领域
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期刊：Biomaterials Science 作者：Nikita Savin; Alexander S. Erofeev; Василий Колмогоров; S. V. Salikhov; Yuri M. Efremov; et al 出版日期：2022-11-29 |
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