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 In Situ Diagnosis for IGBT Chip Failure in Multichip IGBT Modules Based on a Newly Defined Characteristic Parameter Low-Sensitive to Operation Conditions 基于新定义的对工作条件低敏感特征参数的多芯片IGBT模块IGBT芯片故障原位诊断
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期刊：IEEE Transactions on Power Electronics 作者：Jianpeng Wang; Wenjie Chen; Yuwei Wu; Yi Liu; Tianjian Wang; et al 出版日期：2023-03-06 |
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