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 Current transport dynamics and stability characteristics of the NiO x based gate structure for normally-off GaN HEMTs 常闭GaN HEMTs NiO x基栅极结构的电流输运动力学和稳定性特性
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材料科学
光电子学
非阻塞I/O
退火（玻璃）
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晶体管
制作
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医学
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期刊：Journal of Physics D Applied Physics 作者：Yonghao Du; Weizong Xu; Hehe Gong; Jiandong Ye; Feng Zhou; et al 出版日期：2022-09-12 |
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