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 Wafer Scale Synthesis and High Resolution Structural Characterization of Atomically Thin MoS2 Layers 原子薄MoS 2层的圆片级合成和高分辨率结构特征
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期刊：Advanced Functional Materials 作者：Aaron George; Zafer Mutlu; Robert Ionescu; Ryan J. Wu; Jong Seok Jeong; et al 出版日期：2014-09-30 |
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