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Defectivity in Silicon Nitride Etching with Phosphoric Acid using Single Wafer Processing 相关领域
薄脆饼
蚀刻(微加工)
氮化硅
材料科学
磷酸
硅
氮化物
光电子学
冶金
纳米技术
图层(电子)
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期刊:2025 36th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) 作者:Wei-Shang Lo; Taiki Hinode; M. Sankarapandian; Alma Vela Ramirez; Minnal Packiam 出版日期:2025-05-28 |
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