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![]() 快、慢瞬态充电效应对高κ介质In0.7Ga 0.3 As量子阱MOSFET可靠性不稳定性的影响
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Hyuk-Min Kwon; Dae-Hyun Kim; Tae‐Woo Kim 出版日期:2020-10-09 |
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