| 标题 |
X-ray characterization of physical-vapor-transport-grown bulk AlN single crystals |
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| DOI |
10.1107/s1600576720008961
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期刊:Journal of Applied Crystallography 作者:Thomas Wicht; S. Müller; Roland Weingärtner; Boris M. Epelbaum; Sven Besendörfer; et al 出版日期:2020-07-30 |
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(2025-6-4)