| 标题 |
 Defect 3D reconstruction with integrated bright-field and dark-field structured illumination microscopy based on Att-PU-Net 相关领域
光学
材料科学
显微镜
迭代重建
三维重建
光学显微镜
图像处理
光学相干层析成像
结构光
衰减系数
激光束
薄层荧光显微镜
折射率
数字全息显微术
光散射
杂散光
点扩散函数
共焦显微镜
积分成像
反射率
曲面重建
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| 网址 | |
| DOI |
10.1364/AO.587592
doi
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