| 标题 |
Evaluation of multilayer defect repair viability and protection techniques for extreme ultraviolet masks |
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10.1117/1.jmm.15.2.021010
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| 其它 |
期刊:Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS 作者:Takeshi Isogawa; Kazunori Seki; Mark Lawliss; Zhengqing John Qi; Jed Rankin; et al 出版日期:2016-03-18 |
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