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 Study on single-event radiation effects and hardening techniques in GaN HEMTs GaN HEMTs中的单事件辐射效应及硬化技术研究
相关领域
材料科学
辐射
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期刊：Journal of Computational Electronics 作者：Yuan Liu; Ying Wang; Hao Huang 出版日期：2025-06-30 |
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